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用于掃描電鏡原位拉伸臺(tái)
- 產(chǎn)品介紹：用于掃描電鏡原位拉伸臺(tái)實(shí)現(xiàn)原位在線(xiàn)觀(guān)測(cè)材料在加載過(guò)程中微觀(guān)組織變化微型化設(shè)計(jì)，適合SEM、AFM、X射線(xiàn)衍射儀等空間有限的環(huán)境下使用原位拉伸臺(tái)適用于生物骨材料、生物軟組織材料、高分子材料、金屬薄片材料、陶瓷材料原位拉伸、壓縮、循環(huán)性能研究，可在SEM內(nèi)部在線(xiàn)使用或獨(dú)立使用
- 產(chǎn)品型號(hào)：IBTC-300
- 更新時(shí)間：2025-02-28
- 廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：4484
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產(chǎn)品介紹
| 品牌 | CARE/凱爾測(cè)控 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,道路/軌道/船舶 |
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用于掃描電鏡原位拉伸臺(tái)產(chǎn)品特點(diǎn)：
•雙向?qū)ΨQ(chēng)加載，保證樣品中心變形區(qū)在SEM視場(chǎng)中心；
•空間布局合理，同時(shí)達(dá)到二次電子和能譜的優(yōu)良成像條件；
•加載主機(jī)通過(guò)導(dǎo)電底座，安裝固定于SEM內(nèi)部的XYZ電動(dòng)平臺(tái)上方，通過(guò)SEM操作軟件移動(dòng)平臺(tái)，調(diào)整觀(guān)測(cè)位置；
•法蘭連接器起到加載主機(jī)到SEM真空腔體的信號(hào)線(xiàn)轉(zhuǎn)接功能，密封效果符合SEM對(duì)真空的要求，不需要再次拆卸；
•原位主機(jī)的操作方式同其他原位力學(xué)試驗(yàn)系統(tǒng)一致，主要功能包括原位拉伸、壓縮、蠕變、松弛、循環(huán)（疲勞）性能等；
用于掃描電鏡原位拉伸臺(tái)實(shí)現(xiàn)原位在線(xiàn)觀(guān)測(cè)材料在加載過(guò)程中微觀(guān)組織變化
微型化設(shè)計(jì)，適合SEM、AFM、X射線(xiàn)衍射儀等空間有限的環(huán)境下使用
原位拉伸臺(tái)適用于生物骨材料、生物軟組織材料、高分子材料、金屬薄片材料、陶瓷材料
原位拉伸、壓縮、循環(huán)性能研究，可在SEM內(nèi)部在線(xiàn)使用或獨(dú)立使用
產(chǎn)品特點(diǎn)：
◆ 掃描電鏡下的原位拉伸臺(tái)試驗(yàn)機(jī)，在線(xiàn)觀(guān)測(cè)微型材料高溫力學(xué)實(shí)驗(yàn)機(jī)；
◆ 凱爾測(cè)控 原位拉伸臺(tái)適合多種顯微觀(guān)測(cè)系統(tǒng)，比如掃描電鏡、投射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等；
◆ 可實(shí)現(xiàn)原位“拉伸—剪切"、“壓縮—剪切"、“單軸拉伸/壓縮"、“純剪切"及疲勞力學(xué)測(cè)試等多重測(cè)試模式，實(shí)現(xiàn)原位復(fù)合載荷測(cè)試薄膜及細(xì)絲力學(xué)實(shí)驗(yàn)；
◆ 也可獨(dú)立使用測(cè)定材料力學(xué)參數(shù)；同時(shí)由于結(jié)構(gòu)緊湊微小、充分考慮了真空兼容性和電磁兼容性，因此可實(shí)現(xiàn)與金相顯微鏡、掃描電鏡、拉曼光譜儀、X射線(xiàn)衍射儀、原子力顯微鏡等顯微成像設(shè)備的兼容，所采用的超低速準(zhǔn)靜態(tài)加載方式有利于在成像儀器下對(duì)載荷作用下材料細(xì)微的變形損傷變化狀況進(jìn)行連續(xù)的高分辨率可視化原位監(jiān)測(cè)，便于系統(tǒng)深入的研究揭示載荷作用、材料變形損傷機(jī)制與微觀(guān)結(jié)構(gòu)變化間的規(guī)律。
